[1]
О. К. Гаришин, “Моделирование контактного режима работы атомно-силового микроскопа с учетом немеханических сил взаимодействия с поверхностью образца”, ВМСС, vol. 5, no. 1, pp. 61–69, May 2012, doi: 10.7242/1999-6691/2012.5.1.8.